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  Joint crystallographic and chemical characterization at the nanometer scale by correlative TEM and atom probe tomography

Herbig, M., Raabe, D., Li, Y., Choi, P.-P., Zaefferer, S., & Goto, S. (2014). Joint crystallographic and chemical characterization at the nanometer scale by correlative TEM and atom probe tomography. Talk presented at Workshop: White-etching layers in ball and roller bearings, Informatik-Zentrum Hörn. Aachen, Germany. 2014-11-18.

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基本情報

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資料種別: 講演

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 作成者:
Herbig, Michael1, 著者           
Raabe, Dierk2, 著者           
Li, Yujiao3, 著者           
Choi, Pyuck-Pa1, 著者           
Zaefferer, Stefan4, 著者           
Goto, Shoji2, 著者           
所属:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
3Alloy Design and Thermomechanical Processing, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863383              
4Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2014-11
 出版の状態: 不明
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): -
 学位: -

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イベント名: Workshop: White-etching layers in ball and roller bearings, Informatik-Zentrum Hörn
開催地: Aachen, Germany
開始日・終了日: 2014-11-18

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出版物

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