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  Eine Methode zur Eichung der Messapparatur bei Streulichtmessungen an heissen Plasmen

Stoye, P.(1968). Eine Methode zur Eichung der Messapparatur bei Streulichtmessungen an heissen Plasmen (IPP 1/84). Garching(DE): Max-Planck-Institut für Plasmaphysik.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-722E-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-722F-8
Genre: Bericht

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:
IPP 1_84.pdf (beliebiger Volltext), 60MB
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Datei-Permalink:
https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-7230-2
Name:
IPP 1_84.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
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Copyright Datum:
-
Copyright Info:
eDoc_access: PUBLIC
Lizenz:
-

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Urheber

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 Urheber:
Stoye, P.1, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): deu - German
 Datum: 1968
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 38 pp.
 Ort, Verlag, Ausgabe: Garching(DE) : Max-Planck-Institut für Plasmaphysik
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 479890
Reportnr.: IPP 1/84
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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