EUV Spectroscopy of Highly Charged Xenon Ions

Biedermann, C.; Radtke, R.; Fussmann, G.; Schwob, J. L.; Mandelbaum, P.

EUV Spectroscopy of Highly Charged Xenon Ions

Biedermann, C., Radtke, R., Fussmann, G., Schwob, J. L., & Mandelbaum, P. (2005). EUV Spectroscopy of Highly Charged Xenon Ions. Nuclear Instruments Amd Methods in Physics Research. Section B, 235, 126-130. Retrieved from http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2005.03.158.

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資料種別: 学術論文

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Biedermann, C.¹, 著者
Radtke, R.¹, 著者
Fussmann, G.¹, 著者
Schwob, J. L.², 著者
Mandelbaum, P.², 著者

所属:
1Plasma Diagnostics Group (HUB), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856324
2Institut für Physik, Humboldt-Universität zu Berlin; Racah Institute of Physics, Hebrew University of Jerusalem, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: 12th International Conference on the Physics of Highly Charged Ions (HCI-2004), Vilnius, 2004-09-06 to 2004-09-10

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 2005

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 313039
URI: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2005.03.158

学位: -

訴訟

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出版物名: Nuclear Instruments Amd Methods in Physics Research. Section B

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: Elsevier Ltd.

ページ: - 巻号: 235 通巻号: - 開始・終了ページ: 126 - 130 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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