Infrared nanoscopy of strained semiconductors

Huber, A. J.; Ziegler, A.; Köck, T.; Hillenbrand, R.

doi:10.1038/nnano.2008.399

Infrared nanoscopy of strained semiconductors

Huber, A. J., Ziegler, A., Köck, T., & Hillenbrand, R. (2009). Infrared nanoscopy of strained semiconductors. Nature Nanotechnology, 4(3), 153-157. doi:10.1038/nnano.2008.399.

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資料種別: 学術論文

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Huber, A. J.¹, 著者
Ziegler, A.¹, 著者
Köck, T.², 著者
Hillenbrand, R.¹, 著者

所属:
1Nanooptics Laboratory, CIC nanoGUNE Consolider, 20018 Donostia-San Sebastian, Spain; Nano-Photonics Group, Max-Planck-Institut für Biochemie, 82152 Martinsried, München, and Center for NanoScience (CeNS), Germany; Molekulare Strukturbiologie, Max-Planck-Institut für Biochemie, 82152 Martinsried, München, Germany, ou_persistent22
2Material Research (MF), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856328

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言語: eng - English

日付: 出版: 2009

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 429478
DOI: 10.1038/nnano.2008.399
URI: http://dx.doi.org/10.1038/nnano.2008.399

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Nature Nanotechnology

出版物の別名 : Nat. Nanotechnol.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: Nature Publishing Group

ページ: - 巻号: 4 (3) 通巻号: - 開始・終了ページ: 153 - 157 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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