Statistically sound evaluation of trace element depth profiles by ion beam 
analysis

Schmid, K.; von Toussaint, U.

doi:10.1016/j.nimb.2012.03.024

Statistically sound evaluation of trace element depth profiles by ion beam analysis

Schmid, K., & von Toussaint, U. (2012). Statistically sound evaluation of trace element depth profiles by ion beam analysis. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 281, 64-71. doi:10.1016/j.nimb.2012.03.024.

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資料種別: 学術論文

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Schmid, K.¹, 著者
von Toussaint, U.¹, 著者

所属:
1Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327

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言語: eng - English

日付: 出版: 2012

出版の状態: 出版

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査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 609614
DOI: 10.1016/j.nimb.2012.03.024
URI: http://dx.doi.org/10.1016/j.nimb.2012.03.024

学位: -

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出版物名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: Elsevier B.V.

ページ: - 巻号: 281 通巻号: - 開始・終了ページ: 64 - 71 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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