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  Grain boundary segregation in multicrystalline silicon: correlative characterization by EBSD, EBIC, and atom probe tomography

Stoffers, A., Cojocaru-Mirédin, O., Seifert, W., Zaefferer, S., Riepe, S., & Raabe, D. (2015). Grain boundary segregation in multicrystalline silicon: correlative characterization by EBSD, EBIC, and atom probe tomography. Progress in Photovoltaics: Research and Applications, 23(12), 1742-1753. doi:10.1002/pip.2614.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-BBB2-E 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-3E35-7
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Stoffers, Andreas1, 著者           
Cojocaru-Mirédin, Oana1, 著者           
Seifert, Winfried2, 著者           
Zaefferer, Stefan3, 著者           
Riepe, Stephan4, 著者           
Raabe, Dierk5, 著者           
所属:
1Interface Design in Solar Cells, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863387              
2Brandenburgische Technische Universität, Platz der Deutschen Einheit 1, Cottbus, Germany, ou_persistent22              
3Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              
4Fraunhofer-Institut für Solare Energiesysteme, Freiburg, Germany, ou_persistent22              
5Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2015-05-082015-12
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1002/pip.2614
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Progress in Photovoltaics: Research and Applications
  省略形 : Prog. Photovoltaics: Res. Appl.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Chichester, West Sussex, England : John Wiley & Sons, Ltd.
ページ: - 巻号: 23 (12) 通巻号: - 開始・終了ページ: 1742 - 1753 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1062-7995
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925598626