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  ION-MICROSCOPE ANALYZER

LIEBL, H. (1972). ION-MICROSCOPE ANALYZER. MESSTECHNIK, 80(12), 358-365.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-C012-5 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-C013-3
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
LIEBL, H1, Autor           
Affiliations:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1972
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: ISI: A1972O819200002
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: MESSTECHNIK
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 80 (12) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 358 - 365 Identifikator: -