Potential and Limitations of Reflectometry due to Scattering from Density 
Fluctuations

Hirsch, M.; Sanchez, J.; Holzhauer, E.; De la Luna, E.

Potential and Limitations of Reflectometry due to Scattering from Density Fluctuations

Hirsch, M., Sanchez, J., Holzhauer, E., & De la Luna, E. (1997). Potential and Limitations of Reflectometry due to Scattering from Density Fluctuations. In 3rd Workshop on Microwave Reflectometry for Fusion Plasma Diagnostics (pp. 21-28).

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-8C45-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-8C46-E

資料種別: 会議論文

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Hirsch, M.¹, 著者
Sanchez, J.², 著者
Holzhauer, E.³, 著者
De la Luna, E.², 著者

所属:
1Experimental Plasma Physics 3 (E3), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856291
2Max Planck Society, ou_persistent13
3External Organizations, ou_persistent22

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日付: 出版: 1997

出版の状態: 出版

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査読: 査読あり（内部）

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 673893

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: 3rd Workshop on Microwave Reflectometry for Fusion Plasma Diagnostics

種別: 会議論文集

著者・編者:

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 21 - 28 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

出版物 2

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出版物名: Informes Tecnicos Ciemat

種別: 連載記事

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ページ: - 巻号: 838 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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