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  Potential and Limitations of Reflectometry due to Scattering from Density Fluctuations

Hirsch, M., Sanchez, J., Holzhauer, E., & De la Luna, E. (1997). Potential and Limitations of Reflectometry due to Scattering from Density Fluctuations. In 3rd Workshop on Microwave Reflectometry for Fusion Plasma Diagnostics (pp. 21-28).

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-8C45-0 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-8C46-E
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hirsch, M.1, Autor           
Sanchez, J.2, Autor
Holzhauer, E.3, Autor           
De la Luna, E.2, Autor
Affiliations:
1Experimental Plasma Physics 3 (E3), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856291              
2Max Planck Society, ou_persistent13              
3External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1997
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Interne Begutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 673893
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 3rd Workshop on Microwave Reflectometry for Fusion Plasma Diagnostics
Veranstaltungsort: Madrid (ES)
Start-/Enddatum: 1997-05-05 - 1997-05-07

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 3rd Workshop on Microwave Reflectometry for Fusion Plasma Diagnostics
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 21 - 28 Identifikator: -

Quelle 2

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Titel: Informes Tecnicos Ciemat
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 838 Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: -