Ion scattering and scanning tunneling microscopy studies of stepped Cu surfaces

Taglauer, E.; Reiter, S.; Liegl, A.; Schömann, S.

doi:10.1016/0168-583X(95)01099-8

Ion scattering and scanning tunneling microscopy studies of stepped Cu surfaces

Taglauer, E., Reiter, S., Liegl, A., & Schömann, S. (1996). Ion scattering and scanning tunneling microscopy studies of stepped Cu surfaces. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, 118(1-4), 456-461. doi:10.1016/0168-583X(95)01099-8.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-8CF2-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0027-8CF3-A

資料種別: 学術論文

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Taglauer, E.¹, 著者
Reiter, S.¹, 著者
Liegl, A.², 著者
Schömann, S.³, 著者

所属:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288
2Max Planck Society, ou_persistent13
3External Organizations, ou_persistent22

内容説明

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キーワード: 12th International Conference on Ion Beam Analysis (IBA-12), Arizona, 1995-05-22 to 1995-05-26

要旨: -

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言語: eng - English

日付: 出版: 1996

出版の状態: 出版

ページ: -

出版情報: -

目次: -

査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: eDoc: 626313
DOI: 10.1016/0168-583X(95)01099-8
URI: http://www.sciencedirect.com/science/article/pii/0168583X95010998

学位: -

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出版物 1

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出版物名: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 118 (1-4) 通巻号: - 開始・終了ページ: 456 - 461 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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