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  Simultaneous analysis of low-Z impurities in the near-surface region of solid materials by heavy ion elastic recoil detection (HIERD)

Grigull, S., Behrisch, R., Kreissig, U., & Harz, M. (1995). Simultaneous analysis of low-Z impurities in the near-surface region of solid materials by heavy ion elastic recoil detection (HIERD). Fresenius Journal of Analytical Chemistry, 353(5-8), 578-581. doi:10.1007/BF00321327.

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Urheber

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 Urheber:
Grigull, S.1, Autor           
Behrisch, R.1, Autor           
Kreissig, U., Autor
Harz, M., Autor
Affiliations:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              

Inhalt

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Schlagwörter: 8th Conference on Applied Surface Analysis, Kaiserslautern, Germany, 1994-09-05 to 1994-09-08
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1995
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Fresenius Journal of Analytical Chemistry
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 353 (5-8) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 578 - 581 Identifikator: -