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Datensatz

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  Depth Profiling of Deuterium in a Beryllium/Carbon Layer

Hughes, I. G., Behrisch, R., & Martinelli, A. P. (1992). Depth Profiling of Deuterium in a Beryllium/Carbon Layer. Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms, B64, 434-438.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hughes, I. G., Autor
Behrisch, R.1, Autor           
Martinelli, A. P.1, 2, Autor           
Affiliations:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              
2Experimental Plasma Physics 2 (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856292              

Inhalt

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Schlagwörter: 10th International Conference on Ion Beam Analysis, Eindhoven, 1991-07-01 to 1991-07-05
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 1992
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: eDoc: 670187
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research Section B: Beam Interactions with Materials and Atoms
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Elsevier B.V.
Seiten: - Band / Heft: B64 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 434 - 438 Identifikator: -