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  Single shot time stamping of ultrabright radio frequency compressed electron pulses

Gao, M., Jiang, Y., Kassier, G., & Miller, R. J. D. (2013). Single shot time stamping of ultrabright radio frequency compressed electron pulses. Applied Physics Letters, 103(3): 033503. doi:10.1063/1.4813313.

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1.4813313.pdf (Verlagsversion), 2MB
Name:
1.4813313.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
2013
Copyright Info:
© American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics.
Lizenz:
-

Externe Referenzen

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externe Referenz:
http://dx.doi.org/10.1063/1.4813313 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Gao, Meng1, 2, 3, Autor           
Jiang, Yifeng2, 3, Autor           
Kassier, Günther2, 3, Autor           
Miller, R. J. Dwayne1, 2, 3, Autor           
Affiliations:
1Department of Chemistry and Physics, University of Toronto, 80 St. George Street, Toronto, Ontario M5S 3H6, Canada, ou_persistent22              
2Center for Free Electron Laser Science, University of Hamburg, DESY, D-22607 Hamburg, Germany, ou_persistent22              
3Atomically Resolved Structural Dynamics Division, Max Planck Research Department for Structural Dynamics, Department of Physics, University of Hamburg, External Organizations, ou_2173636              

Inhalt

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Schlagwörter: Cameras; Time measurement; Charge coupled devices; Electron diffraction; Electron sources
 Zusammenfassung: We demonstrate a method of time-stamping Radio Frequency compressed electron bunches for Ultrafast Electron Diffraction experiments in the sub-pC regime. We use an in-situ ultra-stable photo-triggered streak camera to directly track the time of arrival of each electron pulse and correct for the timing jitter in the radio frequency synchronization. We show that we can correct for timing jitter down to 30 fs root-mean-square with minimal distortion to the diffraction patterns, and performed a proof-of-principle experiment by measuring the ultrafast electron-phonon coupling dynamics of silicon.

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013-05-062013-06-202013-07-152013
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 4
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.4813313
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Applied Physics Letters
  Kurztitel : Appl. Phys. Lett.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 103 (3) Artikelnummer: 033503 Start- / Endseite: - Identifikator: Anderer: 0003-6951
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954922836223