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  Analysis of the interface fracture resistance of multi-layered thin film structures under various service conditions

Soler, R., Venkatesan, S., Heinz, W., Roth, R., Nelhiebel, M., Fugger, J., et al. (2015). Analysis of the interface fracture resistance of multi-layered thin film structures under various service conditions. Talk presented at ESMC2015. Madrid, Spain. 2015-07-06 - 2015-07-10.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Soler, Rafael1, Autor           
Venkatesan, Sriram2, Autor           
Heinz, Walther3, Autor           
Roth, R.4, Autor           
Nelhiebel, Michael5, Autor           
Fugger, J.5, Autor           
Kirchlechner, Christoph1, Autor           
Dehm, Gerhard6, Autor           
Affiliations:
1Nano-/ Micromechanics of Materials, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863401              
2Advanced Transmission Electron Microscopy, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863399              
3Kompetenzzentrum Automobil- und Industrie-Elektronik GmbH, A-9524 Villach, Austria, ou_persistent22              
4Infineon Technologies AG, 9500 Villach, Austria, ou_persistent22              
5Kompetenzzentrum für Automobil und Industrieelektronik (KAI), Villach, Austria, ou_persistent22              
6Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-07
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: ESMC2015
Veranstaltungsort: Madrid, Spain
Start-/Enddatum: 2015-07-06 - 2015-07-10

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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