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  Analysis of the interface fracture resistance of multi-layered thin film structures under various service conditions

Soler, R., Venkatesan, S., Heinz, W., Roth, R., Nelhiebel, M., Fugger, J., Kirchlechner, C., & Dehm, G. (2015). Analysis of the interface fracture resistance of multi-layered thin film structures under various service conditions. Talk presented at ESMC2015. Madrid, Spain. 2015-07-06 - 2015-07-10.

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資料種別: 講演

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 作成者:
Soler, Rafael1, 著者           
Venkatesan, Sriram2, 著者           
Heinz, Walther3, 著者           
Roth, R.4, 著者           
Nelhiebel, Michael5, 著者           
Fugger, J.5, 著者           
Kirchlechner, Christoph1, 著者           
Dehm, Gerhard6, 著者           
所属:
1Nano-/ Micromechanics of Materials, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863401              
2Advanced Transmission Electron Microscopy, Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863399              
3Kompetenzzentrum Automobil- und Industrie-Elektronik GmbH, A-9524 Villach, Austria, ou_persistent22              
4Infineon Technologies AG, 9500 Villach, Austria, ou_persistent22              
5Kompetenzzentrum für Automobil und Industrieelektronik (KAI), Villach, Austria, ou_persistent22              
6Structure and Nano-/ Micromechanics of Materials, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863398              

内容説明

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資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2015-07
 出版の状態: 不明
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): -
 学位: -

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イベント名: ESMC2015
開催地: Madrid, Spain
開始日・終了日: 2015-07-06 - 2015-07-10

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