Characterization and correction of charge-induced pixel shifts in DECam

Gruen, D.; Bernstein, G.M.; Jarvis, M.; Rowe, B.; Vikram, V.; Plazas, A.A.; Seitz, S.

doi:10.1088/1748-0221/10/05/C05032

Characterization and correction of charge-induced pixel shifts in DECam

Gruen, D., Bernstein, G., Jarvis, M., Rowe, B., Vikram, V., Plazas, A., & Seitz, S. (2015). Characterization and correction of charge-induced pixel shifts in DECam. Journal of Instrumentation, 10(5):, 1-21. doi:10.1088/1748-0221/10/05/C05032.

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資料種別: 会議論文

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Gruen, D.¹, 著者
Bernstein, G.M., 著者
Jarvis, M., 著者
Rowe, B., 著者
Vikram, V., 著者
Plazas, A.A., 著者
Seitz, S.¹, 著者

所属:
1Optical and Interpretative Astronomy, MPI for Extraterrestrial Physics, Max Planck Society, ou_159895

内容説明

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2015-05

出版の状態: オンラインで出版済み

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査読: 査読あり

識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1088/1748-0221/10/05/C05032
その他: LOCALID: 2182625

学位: -

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出版物名: Journal of Instrumentation

省略形 : J. Instrum.

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 10 (5) 通巻号: C05032 開始・終了ページ: 1 - 21 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1748-0221

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