Electron backscatter diffraction (EBSD) and electron channelling contrast 
imaging (ECCI) for the study of thin film solar cells

Zaefferer, Stefan; Stechmann, Guillaume

Electron backscatter diffraction (EBSD) and electron channelling contrast imaging (ECCI) for the study of thin film solar cells

Zaefferer, S., & Stechmann, G. (2015). Electron backscatter diffraction (EBSD) and electron channelling contrast imaging (ECCI) for the study of thin film solar cells. Talk presented at Workshop Morphologie und Mikrostruktur dünner Schichten. Dresden, Germany. 2015-03-12.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-45B7-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-45B8-A

資料種別: 講演

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Zaefferer, Stefan¹, 著者
Stechmann, Guillaume², 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381

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言語: eng - English

日付: 作成: 2015-03

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