Dislocations, grain boundaries and strain fields observed on bulk samples: high 
resolution defect analysis by scanning electron microscopy-based diffraction 
techniques

Zaefferer, Stefan; Ram, Farangis; Mandal, Suvendu; Raabe, Dierk

Dislocations, grain boundaries and strain fields observed on bulk samples: high resolution defect analysis by scanning electron microscopy-based diffraction techniques

Zaefferer, S., Ram, F., Mandal, S., & Raabe, D. (2015). Dislocations, grain boundaries and strain fields observed on bulk samples: high resolution defect analysis by scanning electron microscopy-based diffraction techniques. Talk presented at ICOTOM 17; invited plenary. Dresden, Germany. 2015-08-24 - 2015-08-29.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-45CE-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-45CF-7

資料種別: 講演

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Zaefferer, Stefan¹, 著者
Ram, Farangis¹, 著者
Mandal, Suvendu², 著者
Raabe, Dierk³, 著者

所属:
1Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391
2Theory and Simulation of Complex Fluids, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863393
3Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381

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言語: eng - English

日付: 作成: 2015-08

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