Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  Microstructural and Electronic Characterization of CdTe Thin Film Solar Cells: A Correlative SEM-Based Approach

Stechmann, G., & Zaefferer, S. (2015). Microstructural and Electronic Characterization of CdTe Thin Film Solar Cells: A Correlative SEM-Based Approach. Poster presented at IAMNano, Hamburg, Germany.

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Stechmann, Guillaume1, Autor           
Zaefferer, Stefan2, Autor           
Affiliations:
1Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
2Microscopy and Diffraction, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863391              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-07
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:
ausblenden:
Titel: IAMNano
Veranstaltungsort: Hamburg, Germany
Start-/Enddatum: 2015-07-07 - 2015-07-08

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle

einblenden: