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  Role of biaxial strain and microscopic ordering for structural and electronic properties of InxGa1-xN

Cui, Y., Lee, S., Freysoldt, C., & Neugebauer, J. (2015). Role of biaxial strain and microscopic ordering for structural and electronic properties of InxGa1-xN. Physical Review B, 92(8): 085204, pp. 5204-5210. doi:10.1103/PhysRevB.92.085204.

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Urheber

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 Urheber:
Cui, Ying1, Autor           
Lee, Sangheon1, Autor           
Freysoldt, Christoph1, Autor           
Neugebauer, Jörg2, Autor           
Affiliations:
1Defect Chemistry and Spectroscopy, Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863342              
2Computational Materials Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863337              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-03-232015-08-20
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1103/PhysRevB.92.085204
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review B
  Kurztitel : Phys. Rev. B
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Woodbury, NY : American Physical Society
Seiten: 6 Band / Heft: 92 (8) Artikelnummer: 085204 Start- / Endseite: 5204 - 5210 Identifikator: ISSN: 1098-0121
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925225008