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  Artifact-free, long-lasting phase plate

Kurth, P., Pattai, S., Rudolph, D., Overbuschmann, J., Wamser, J., & Irsen, S. (2014). Artifact-free, long-lasting phase plate. Microscopy and Microanalysis, 20, 220-221. doi:10.1017/S1431927614002827.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-60B9-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0008-87ED-5
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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externe Referenz:
http://journals.cambridge.org/action/displayAbstract?fromPage=online&aid=9322808&fileId=S1431927614002827 (beliebiger Volltext)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

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 Urheber:
Kurth, P., Autor
Pattai, S., Autor
Rudolph, D.1, Autor           
Overbuschmann, J.1, Autor           
Wamser, J., Autor
Irsen, S.1, Autor           
Affiliations:
1Electron Microscopy and Analytics, Center of Advanced European Studies and Research (caesar), Max Planck Society, ou_2173680              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 2014
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927614002827
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Kurztitel : Microsc Microanal
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 20 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 220 - 221 Identifikator: -