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  High-Fluence He-Implantation in Ni Trapping, Re-Emission, and Surface Modification

Scherzer, B., Ehrenberg, J., & Behrisch, R. (1983). High-Fluence He-Implantation in Ni Trapping, Re-Emission, and Surface Modification. Radiation Effects, 78, 417.

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基本情報

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資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Scherzer, B.M.U.1, 著者
Ehrenberg, J.2, 著者           
Behrisch, R.3, 著者           
所属:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Max Planck Institute for Plasma Physics, ou_persistent27              
3Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              

内容説明

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資料詳細

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言語:
 日付: 1983
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): -
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Radiation Effects
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 78 通巻号: - 開始・終了ページ: 417 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): -