High-Fluence He-Implantation in Ni Trapping, Re-Emission, and Surface 
Modification

Scherzer, B.M.U.; Ehrenberg, J.; Behrisch, R.

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High-Fluence He-Implantation in Ni Trapping, Re-Emission, and Surface Modification

Scherzer, B., Ehrenberg, J., & Behrisch, R. (1983). High-Fluence He-Implantation in Ni Trapping, Re-Emission, and Surface Modification. Radiation Effects, 78, 417.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-A44B-B 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-A44C-9

資料種別: 学術論文

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Scherzer, B.M.U.¹, 著者
Ehrenberg, J.², 著者
Behrisch, R.³, 著者

所属:
1External Organizations, ou_persistent22
2Max Planck Institute for Plasma Physics, ou_persistent27
3Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288

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日付: 出版: 1983

出版の状態: 出版

ページ: -

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査読: -

識別子（DOI, ISBNなど）: -

学位: -

訴訟

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出版物 1

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出版物名: Radiation Effects

種別: 学術雑誌

著者・編者:

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出版社, 出版地: -

ページ: - 巻号: 78 通巻号: - 開始・終了ページ: 417 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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