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  High-Fluence He-Implantation in Ni Trapping, Re-Emission, and Surface Modification

Scherzer, B., Ehrenberg, J., & Behrisch, R. (1983). High-Fluence He-Implantation in Ni Trapping, Re-Emission, and Surface Modification. Radiation Effects, 78, 417.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-A44B-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-A44C-9
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Scherzer, B.M.U.1, Autor
Ehrenberg, J.2, Autor           
Behrisch, R.3, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Max Planck Institute for Plasma Physics, ou_persistent27              
3Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1983
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Radiation Effects
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 78 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 417 Identifikator: -