Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  Depth Distribution of Damage Obtained by Rutherford Backscattering Combined with Channeling

Behrisch, R., Meyer, O., & Roth, J. (1976). Depth Distribution of Damage Obtained by Rutherford Backscattering Combined with Channeling. In Ion Beam Surface Layer Analysis (pp. 539-565).

Item is

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Behrisch, R.1, Autor           
Meyer, O.2, Autor
Roth, J.1, Autor           
Affiliations:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              
2External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n):
 Datum: 1976
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Ion Beam Surface Layer Analysis
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: Vol. 2 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 539 - 565 Identifikator: -