Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Depth-Profiling of Cu-Ni Sandwich Samples by Secondary Ion Mass Spectrometry

Hofer, W., & Liebl, H. (1975). Depth-Profiling of Cu-Ni Sandwich Samples by Secondary Ion Mass Spectrometry. Applied Physics, 8, 359-360.

Item is

 

einblenden: alle ausblenden: alle

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-B7FC-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-B7FD-8
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Hofer, W.O.1, Autor
Liebl, H.2, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              

Inhalt

einblenden:

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n):
 Datum: 1975
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Applied Physics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 8 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 359 - 360 Identifikator: -