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  Surface Analysis with Low Energy Ion Scattering

Taglauer, E., & Heiland, W. (1976). Surface Analysis with Low Energy Ion Scattering. Applied Physics, 9, 261-275.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-B9AB-0 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-B9AC-E
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Taglauer, E.1, 著者           
Heiland, W.1, 2, 著者           
所属:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              
2Experimental Plasma Physics 2 (E2), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856292              

内容説明

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資料詳細

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言語:
 日付: 1976
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: -
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Applied Physics
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: 9 通巻号: - 開始・終了ページ: 261 - 275 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -