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  New Trends in Instrumentation

Liebl, H. (1979). New Trends in Instrumentation. In Secondary Ion Mass Spectrometry (pp. 205-210).

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-BAC9-6 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-BACA-4
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Liebl, H.1, Autor           
Affiliations:
1Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1979
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Secondary Ion Mass Spectrometry
Veranstaltungsort: Osaka (JP)
Start-/Enddatum: 1978-10-22 - 1978-10-28

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Secondary Ion Mass Spectrometry
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 205 - 210 Identifikator: -