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  Depth Analysis of Thin Films with an Ion Microprobe

Hofer, W., Liebl, H., & Staudenmaier, G. (1975). Depth Analysis of Thin Films with an Ion Microprobe. In 148. Meeting of the Electrochemical Society (pp. 243).

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-C87C-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-C87D-0
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Hofer, W.O.1, Autor
Liebl, H.2, Autor           
Staudenmaier, G.2, Autor           
Affiliations:
1External Organizations, ou_persistent22              
2Surface Science (OP), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856288              

Inhalt

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Details

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Sprache(n):
 Datum: 1975
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: 148. Meeting of the Electrochemical Society
Veranstaltungsort: Princeton, NJ(US)
Start-/Enddatum: 1975-10-05 - 1975-10-10

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 148. Meeting of the Electrochemical Society
Genre der Quelle: Konferenzband
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Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: 243 Identifikator: -