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  Tieftemperatur Rastertunnelmikroskopie : Entwicklung eines hochstabilen Gerätekonzepts zur Untersuchung dynamischer Oberflächenprozesse und zur Analyse und Handhabung einzelner Atome und Moleküle zwischen 4 und 300 Kelvin

Buisset, J. (1996). Tieftemperatur Rastertunnelmikroskopie: Entwicklung eines hochstabilen Gerätekonzepts zur Untersuchung dynamischer Oberflächenprozesse und zur Analyse und Handhabung einzelner Atome und Moleküle zwischen 4 und 300 Kelvin. PhD Thesis, Technische Universität, Berlin.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0028-DFC1-E Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0007-614A-9
Genre: Hochschulschrift

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Buisset, Jörg1, Autor           
Affiliations:
1Inorganic Chemistry, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, Berlin, DE, ou_24023              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): deu - German
 Datum: 1996
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 232
 Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Technische Universität
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: Doktorarbeit

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Tieftemperatur Rastertunnelmikroskopie : Entwicklung eines hochstabilen Gerätekonzepts zur Untersuchung dynamischer Oberflächenprozesse und zur Analyse und Handhabung einzelner Atome und Moleküle zwischen 4 und 300 Kelvin
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Wissenschaft und Technik Verlag
Seiten: 232 Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISBN: 3-928943-74-X