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  Topological Characterization of Fractional Quantum Hall Ground States from Microscopic Hamiltonians

Zaletel, M. P., Mong, R. S. K., & Pollmann, F. (2013). Topological Characterization of Fractional Quantum Hall Ground States from Microscopic Hamiltonians. Physical Review Letters, 110(23): 236801. doi:10.1103/PhysRevLett.110.236801.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0029-86C6-B Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0029-86C7-9
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Zaletel, M. P., Autor
Mong, R. S. K., Autor
Pollmann, F.1, Autor           
Affiliations:
1Max Planck Institute for the Physics of Complex Systems, Max Planck Society, ou_2117288              

Inhalt

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Schlagwörter: -
 MPIPKS: Strongly correlated electrons
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n):
 Datum: 2013-06-04
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: eDoc: 680408
ISI: 000320115000018
DOI: 10.1103/PhysRevLett.110.236801
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Letters
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 110 (23) Artikelnummer: 236801 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 0031-9007