Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  Towards phasing using high X-ray intensity

Galli, L., Son, S.-K., Barends, T. R. M., White, T. A., Barty, A., Botha, S., et al. (in press). Towards phasing using high X-ray intensity. IUCrJ, 2(6), 627-634. doi:10.1107/S2052252515014049.

Item is

Dateien

einblenden: Dateien
ausblenden: Dateien
:
IUCrJ_2_2015_627.pdf (beliebiger Volltext), 410KB
 
Datei-Permalink:
-
Name:
IUCrJ_2_2015_627.pdf
Beschreibung:
-
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Eingeschränkt (Max Planck Institute for Medical Research, MHMF; )
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
-
Copyright Info:
-
Lizenz:
-

Externe Referenzen

einblenden:
ausblenden:
externe Referenz:
http://journals.iucr.org/m/issues/2015/06/00/gq5004/gq5004.pdf (beliebiger Volltext)
Beschreibung:
-
OA-Status:
externe Referenz:
http://dx.doi.org/10.1107/S2052252515014049 (beliebiger Volltext)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Galli, Lorenzo, Autor
Son, Sang-Kil, Autor
Barends, Thomas R. M.1, Autor           
White, Thomas A., Autor
Barty, Anton, Autor
Botha, Sabine1, Autor           
Boutet, Sébastien, Autor
Caleman, Carl, Autor
Doak, Bruce1, Autor           
Nanao, Max H., Autor
Nass, Karol1, Autor           
Shoeman, Robert L.1, Autor           
Timneanu, Nicusor, Autor
Santra, Robin, Autor
Schlichting, Ilme1, Autor           
Chapmana, Henry N., Autor
Affiliations:
1Department of Biomolecular Mechanisms, Max Planck Institute for Medical Research, Max Planck Society, ou_1497700              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: serial femtosecond crystallography; high-intensity phasing; radiation damage; electronic damage; X-ray free-electron lasers; high XFEL doses
 Zusammenfassung: Analysis of serial femtosecond crystallography data collected at the Linac Coherent Light Source using two distinct photon fluxes shows different degrees of ionization of Gd atoms bound to a lysozyme protein, due to electronic damage processes. The charge contrast on the heavy atoms is quantified using difference Fourier maps, and the way in which this could be applied to phasing is discussed.

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2014-11-282015-07-24
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 8
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: IUCrJ
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Chester : International Union of Crystallography
Seiten: - Band / Heft: 2 (6) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 627 - 634 Identifikator: ISSN: 2052-2525