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  Berechnung der Druckabhängigkeit tiefer Störstellen in Galliumarsenid : Ein Beitrag zur Identifizierung der mikroskopischen Struktur des EL2-Zentrums

Ziegler, C. (1994). Berechnung der Druckabhängigkeit tiefer Störstellen in Galliumarsenid: Ein Beitrag zur Identifizierung der mikroskopischen Struktur des EL2-Zentrums. PhD Thesis, Technische Universität, Berlin.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Ziegler, Christine1, Autor           
Affiliations:
1Theory, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, Berlin, DE, ou_634547              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): deu - German
 Datum: 1994
 Publikationsstatus: Angenommen
 Seiten: 146
 Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Technische Universität
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: Doktorarbeit

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Einfluß von Fremdatomen auf Struktur und Verteilung von Stufen auf den Vizinalflächen von Si(001)
Genre der Quelle: Buch
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Berlin : Köster
Seiten: 146 Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISBN: 3-929937-87-5