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  Focused ion beam micromachining enables novel optics for X-ray microscopy

Keskinbora, K., Sanli, U., Grévent, C., Hirscher, M., & Schütz, G. (2015). Focused ion beam micromachining enables novel optics for X-ray microscopy. Microscopy and Microanalysis, 21(Suppl 3), 1983-1984. doi:10.1017/S1431927615010697.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0029-B8F6-A Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-0029-B8F7-8
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Keskinbora, K.1, Autor           
Sanli, U.1, Autor           
Grévent, C.1, Autor           
Hirscher, M.1, Autor           
Schütz, G.1, Autor           
Affiliations:
1Dept. Modern Magnetic Systems, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497648              

Inhalt

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Schlagwörter: Abt. Schütz
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015-09-232015-08
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 2
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1017/S1431927615010697
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Microscopy and Microanalysis
  Kurztitel : Microsc. Microanal.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: New York, NY : Springer-Verlag New York
Seiten: - Band / Heft: 21 (Suppl 3) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1983 - 1984 Identifikator: ISSN: 1431-9276
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/991042731793414