Model Order Reduction for Nanoelectronics Coupled Problems with Many Inputs

Banagaaya, Nicodemus; Feng, Lihong; Schoenmaker, Wim; Meuris, Peter; Wieers, Aarnout; Gillon, Renaud; Benner, Peter

Model Order Reduction for Nanoelectronics Coupled Problems with Many Inputs

Banagaaya, N., Feng, L., Schoenmaker, W., Meuris, P., Wieers, A., Gillon, R., & Benner, P. (2016). Model Order Reduction for Nanoelectronics Coupled Problems with Many Inputs. In Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE) (pp. 313-318).

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-AA13-C 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0000-84D3-C

資料種別: 会議論文

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Banagaaya, Nicodemus¹, 著者
Feng, Lihong¹, 著者
Schoenmaker, Wim², 著者
Meuris, Peter², 著者
Wieers, Aarnout³, 著者
Gillon, Renaud³, 著者
Benner, Peter¹, 著者

所属:
1Computational Methods in Systems and Control Theory, Max Planck Institute for Dynamics of Complex Technical Systems, Max Planck Society, ou_1738141
2Magwel NV, Martelarenplein 13, B-3000 Leuven, Belgium, ou_persistent22
3ON Semiconductor Belgium, Oudenaarde, Belgium, ou_persistent22

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日付: 出版: 2016

出版の状態: 出版

ページ: -

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識別子（DOI, ISBNなど）: ISBN: 978-3-9815-3707-9

学位: -

訴訟

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Project information

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Project name : nanoCOPS - Nanoelectronic COupled Problems Solutions

Grant ID : 619166

Funding program : Funding Programme 7 (FP7)

Funding organization : European Commission (EC)

出版物 1

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出版物名: Proceedings of the 2016 Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE)

種別: 会議論文集

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ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: 313 - 318 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: -

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