Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
  Ultrafast electron diffraction optimized for studying structural dynamics in thin films and monolayers

Badali, D. S., Gengler, R. Y. N., & Miller, R. J. D. (2016). Ultrafast electron diffraction optimized for studying structural dynamics in thin films and monolayers. Structural Dynamics, 3(3): 034302. doi:10.1063/1.4949538.

Item is

Basisdaten

einblenden: ausblenden:
Genre: Zeitschriftenartikel

Dateien

einblenden: Dateien
ausblenden: Dateien
:
1.4949538.pdf (Verlagsversion), 2MB
Name:
1.4949538.pdf
Beschreibung:
All article content, except where otherwise noted, is licensed under a Creative Commons Attribution (CC BY) license.
OA-Status:
Sichtbarkeit:
Öffentlich
MIME-Typ / Prüfsumme:
application/pdf / [MD5]
Technische Metadaten:
Copyright Datum:
2016
Copyright Info:
© the Author(s)

Externe Referenzen

einblenden:
ausblenden:
externe Referenz:
http://dx.doi.org/10.1063/1.4949538 (Verlagsversion)
Beschreibung:
-
OA-Status:

Urheber

einblenden:
ausblenden:
 Urheber:
Badali, Daniel Salvatore1, Autor           
Gengler, Régis Y. N.1, Autor           
Miller, R. J. Dwayne1, 2, Autor           
Affiliations:
1Miller Group, Atomically Resolved Dynamics Department, Max Planck Institute for the Structure and Dynamics of Matter, Max Planck Society, ou_1938288              
2Departments of Chemistry and Physics, University of Toronto, 80 St. George Street, Toronto M5S 1H6, Canada, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:
ausblenden:
Schlagwörter: Monolayers; Thin film structure; Space charge effects; Anodes; Cathodes
 Zusammenfassung: A compact electron source specifically designed for time-resolved diffraction studies of free-standing thin films and monolayers is presented here. The sensitivity to thin samples is achieved by extending the established technique of ultrafast electron diffraction to the “medium” energy regime (1–10 kV). An extremely compact design, in combination with low bunch charges, allows for high quality diffraction in a lensless geometry. The measured and simulated characteristics of the experimental system reveal sub-picosecond temporal resolution, while demonstrating the ability to produce high quality diffraction patterns from atomically thin samples.

Details

einblenden:
ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-02-212016-05-022016-05-12
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: 10
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: Expertenbegutachtung
 Identifikatoren: DOI: 10.1063/1.4949538
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

einblenden:

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle 1

einblenden:
ausblenden:
Titel: Structural Dynamics
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Melville, NY : American Institute of Physics
Seiten: - Band / Heft: 3 (3) Artikelnummer: 034302 Start- / Endseite: - Identifikator: Anderer: 2329-7778
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/2329-7778