Recognizing 60 years of achievements in field emission and atomic scale 
microscopy: Reflections on the International Field Emission Society

Cairney, Julie M.; Gault, Baptiste; Larson, David J.

doi:10.1016/j.mattod.2016.01.019

Recognizing 60 years of achievements in field emission and atomic scale microscopy: Reflections on the International Field Emission Society

Cairney, J. M., Gault, B., & Larson, D. J. (2016). Recognizing 60 years of achievements in field emission and atomic scale microscopy: Reflections on the International Field Emission Society. Materials Today, 19(4), 182-183. doi:10.1016/j.mattod.2016.01.019.

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資料種別: 学術論文

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Cairney, Julie M.¹, 著者
Gault, Baptiste², 著者
Larson, David J.³, 著者

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1Australian Centre for Microscopy and Microanalysis, The University of Sydney, NSW 2006, Australia, ou_persistent22
2Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384
3CAMECA Instruments Inc., 5500 Nobel Drive, Madison, WI, USA, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2016-02-19出版: 2016-05

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識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1016/j.mattod.2016.01.019

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出版物名: Materials Today

種別: 学術雑誌

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ページ: - 巻号: 19 (4) 通巻号: - 開始・終了ページ: 182 - 183 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 1369-7021
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1369-7021

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