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  Atom probe tomography of interfaces in ceramic films and oxide scales

Stiller, K. M., Thuvander, M., Povstugar, I., Choi, P.-P., & Andrén, H. O. (2016). Atom probe tomography of interfaces in ceramic films and oxide scales. MRS Bulletin, 41(1), 35-39. doi:10.1557/mrs.2015.307.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-E3F3-1 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-E3F4-0
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Stiller, Krystyna Marta1, Autor           
Thuvander, Mattias2, Autor           
Povstugar, Ivan3, Autor           
Choi, Pyuck-Pa3, Autor           
Andrén, Hans Olof1, Autor           
Affiliations:
1Department of Applied Physics, Division of Materials Microstructure, Chalmers University of Technology, Sweden, ou_persistent22              
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
3Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-01-08
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1557/mrs.2015.307
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: MRS Bulletin
  Kurztitel : MRS Bull.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: 41 (1) Artikelnummer: - Start- / Endseite: 35 - 39 Identifikator: ISSN: 0883-7694
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925549328