Deutsch
 
Hilfe Datenschutzhinweis Impressum
  DetailsucheBrowse

Datensatz

DATENSATZ AKTIONENEXPORT
Zur Ablage hinzufügen
 Lokale TagsFreigabegeschichteDetailsÜbersicht
  Microstructure and Defect Analysis in the Vicinity of Blisters in Polycrystalline Tungsten

Manhard, A., Kapser, S., Gao, L., Balden, M., Elgeti, S., Schwarz-Selinger, T., et al. (2016). Microstructure and Defect Analysis in the Vicinity of Blisters in Polycrystalline Tungsten. Poster presented at 22nd International Conference on Plasma Surface Interactions in Controlled Fusion Devices (PSI 22), Rome.

Item is

 

einblenden: alle

Basisdaten

ausblenden:
Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002A-FD25-F Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/21.11116/0000-0010-1F1A-0
Genre: Poster

Externe Referenzen

einblenden:

Urheber

ausblenden:
 Urheber:
Manhard, A.1, Autor           
Kapser, S.1, 2, Autor           
Gao, L.1, Autor           
Balden, M.1, Autor                 
Elgeti, S.1, Autor           
Schwarz-Selinger, T.1, Autor           
Plocinski, T.2, Autor
Grzonka, J.2, Autor
Gloc, M.2, Autor
Ciupinski, Ł.2, Autor
Affiliations:
1Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327              
2External Organizations, ou_persistent22              

Inhalt

einblenden:

Details

ausblenden:
Sprache(n): eng - English
 Datum: 2015
 Publikationsstatus: Eingereicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

ausblenden:
Titel: 22nd International Conference on Plasma Surface Interactions in Controlled Fusion Devices (PSI 22)
Veranstaltungsort: Rome
Start-/Enddatum: 2016-05-30 - 2016-06-03

Entscheidung

einblenden:

Projektinformation

einblenden:

Quelle

einblenden: