Abklingprozesse der Infrarot-Luminiszenz an Störstellen in II/VI-Halbleitern

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Abklingprozesse der Infrarot-Luminiszenz an Störstellen in II/VI-Halbleitern

Renz, R. (1981). Abklingprozesse der Infrarot-Luminiszenz an Störstellen in II/VI-Halbleitern. PhD Thesis, Technische Universität, Berlin.

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Item Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002B-154F-4 Version Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002C-DB50-0

Genre: Thesis

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Creators:
Renz, Roman¹, Author
Schulz, Hans-Joachim¹, Referee
Gumlich, Hans-Eckhart, Referee

Affiliations:
1Electron Microscopy, Fritz Haber Institute, Max Planck Society, ou_persistent22

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Language(s): deu - German

Dates: Accepted: 1981-04-27

Publication Status: Accepted / In Press

Pages: 102

Publishing info: Berlin : Technische Universität

Table of Contents: -

Rev. Type: -

Identifiers: -

Degree: PhD

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