日本語
 
Help Privacy Policy ポリシー/免責事項
  詳細検索ブラウズ

アイテム詳細

登録内容を編集ファイル形式で保存
 
 
ダウンロード電子メール
  Role of Sub-Nanometer Dielectric Roughness on Microstructure and Charge Carrier Transport in alpha,omega-Dihexylsexithiophene Field-Effect Transistors

Li, M., Marszalek, T., Müllen, K., & Pisula, W. (2016). Role of Sub-Nanometer Dielectric Roughness on Microstructure and Charge Carrier Transport in alpha,omega-Dihexylsexithiophene Field-Effect Transistors. ACS Applied Materials and Interfaces, 8(25), 16200-16206. doi:10.1021/acsami.6b03233.

Item is

基本情報

表示: 非表示:
資料種別: 学術論文

ファイル

表示: ファイル

関連URL

表示:

作成者

表示:
非表示:
 作成者:
Li, Mengmeng1, 著者           
Marszalek, Tomasz1, 著者           
Müllen, Klaus1, 著者           
Pisula, Wojciech1, 著者           
所属:
1Dept. Müllen: Synthetic Chemistry, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800289              

内容説明

表示:

資料詳細

表示:
非表示:
言語: eng - English
 日付: 2016
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): DOI: 10.1021/acsami.6b03233
 学位: -

関連イベント

表示:

訴訟

表示:

Project information

表示:

出版物 1

表示:
非表示:
出版物名: ACS Applied Materials and Interfaces
  省略形 : ACS Appl. Mater. Interfaces
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Washington, DC : American Chemical Society
ページ: - 巻号: 8 (25) 通巻号: - 開始・終了ページ: 16200 - 16206 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 1944-8244
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/1944-8244