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  Experimental Investigation of a Single Chrial Nano-Structure Made of a Composite Material

Wozniak, P., Hoeflich, K., Fritsch, S., Christiansen, S., Banzer, P., & Leuchs, G. (2013). Experimental Investigation of a Single Chrial Nano-Structure Made of a Composite Material. In 2013 CONFERENCE ON AND INTERNATIONAL QUANTUM ELECTRONICS CONFERENCE LASERS AND ELECTRO-OPTICS EUROPE (CLEO EUROPE/IQEC). 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA: IEEE.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Wozniak, P.1, Autor           
Hoeflich, K.2, Autor           
Fritsch, S.3, Autor
Christiansen, S.2, 4, Autor           
Banzer, P.1, Autor           
Leuchs, G.5, Autor           
Affiliations:
1Interference Microscopy and Nanooptics, Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364700              
2Micro- & Nanostructuring, Technology Development and Service Units, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364725              
3external, ou_persistent22              
4Christiansen Research Group, Research Groups, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364716              
5Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364698              

Inhalt

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Schlagwörter: Engineering; Physics;
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2013
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 1
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: ISI: 000355316300420
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Conference on Lasers and Electro-Optics Europe & International Quantum Electronics Conference (CLEO/Europe-IQEC)
Veranstaltungsort: Munich, GERMANY
Start-/Enddatum: 2013-05-12 - 2013-05-16

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 2013 CONFERENCE ON AND INTERNATIONAL QUANTUM ELECTRONICS CONFERENCE LASERS AND ELECTRO-OPTICS EUROPE (CLEO EUROPE/IQEC)
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISBN: 978-1-4799-0594-2