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  Reconstruction of tightly focused beams using Mie-scattering

Bauer, T., Orlov, S., Peschel, U., Banzer, P., & Leuchs, G. (2012). Reconstruction of tightly focused beams using Mie-scattering. In 2012 CONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS (CLEO). 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA: IEEE.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-6915-D Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-6916-B
Genre: Konferenzbeitrag

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Bauer, Thomas1, Autor           
Orlov, Sergej1, Autor           
Peschel, Ulf2, Autor           
Banzer, Peter1, 3, Autor           
Leuchs, Gerd4, Autor           
Affiliations:
1Interference Microscopy and Nanooptics, Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364700              
2Nonlinear Optics and Nanophotonics, Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364701              
3International Max Planck Research School, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364697              
4Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364698              

Inhalt

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Schlagwörter: Engineering; Optics; Physics;
 Zusammenfassung: By using a sub-wavelength nano-particle as a field probe and a tailored detection scheme we are able to reconstruct the electric energy density in the focal plane of a high numerical aperture focusing system. (C) 2011 Optical Society of America

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2012
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: 2
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: ISI: 000310362400194
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)
Veranstaltungsort: San Jose, CA
Start-/Enddatum: 2012-05-06 - 2012-05-11

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: 2012 CONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS (CLEO)
  Alternativer Titel : CONF LASER ELECTR
Genre der Quelle: Konferenzband
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA : IEEE
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 2160-9020
ISBN: 978-1-55752-933-6

Quelle 2

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Titel: Conference on Lasers and Electro-Optics
  Alternativer Titel : CONF LASER ELECTR
Genre der Quelle: Reihe
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: -
Seiten: - Band / Heft: - Artikelnummer: - Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 2160-9020