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  Reconstruction of tightly focused beams using Mie-scattering

Bauer, T., Orlov, S., Peschel, U., Banzer, P., & Leuchs, G. (2012). Reconstruction of tightly focused beams using Mie-scattering. In 2012 CONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS (CLEO). 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA: IEEE.

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基本情報

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資料種別: 会議論文

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作成者

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 作成者:
Bauer, Thomas1, 著者           
Orlov, Sergej1, 著者           
Peschel, Ulf2, 著者           
Banzer, Peter1, 3, 著者           
Leuchs, Gerd4, 著者           
所属:
1Interference Microscopy and Nanooptics, Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364700              
2Nonlinear Optics and Nanophotonics, Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364701              
3International Max Planck Research School, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364697              
4Leuchs Division, Max Planck Institute for the Science of Light, Max Planck Society, ou_2364698              

内容説明

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キーワード: Engineering; Optics; Physics;
 要旨: By using a sub-wavelength nano-particle as a field probe and a tailored detection scheme we are able to reconstruct the electric energy density in the focal plane of a high numerical aperture focusing system. (C) 2011 Optical Society of America

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2012
 出版の状態: 出版
 ページ: 2
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子(DOI, ISBNなど): ISI: 000310362400194
 学位: -

関連イベント

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イベント名: Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)
開催地: San Jose, CA
開始日・終了日: 2012-05-06 - 2012-05-11

訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: 2012 CONFERENCE ON LASERS AND ELECTRO-OPTICS (CLEO)
  出版物の別名 : CONF LASER ELECTR
種別: 会議論文集
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: 345 E 47TH ST, NEW YORK, NY 10017 USA : IEEE
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 2160-9020
ISBN: 978-1-55752-933-6

出版物 2

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出版物名: Conference on Lasers and Electro-Optics
  出版物の別名 : CONF LASER ELECTR
種別: 連載記事
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: -
ページ: - 巻号: - 通巻号: - 開始・終了ページ: - 識別子(ISBN, ISSN, DOIなど): ISSN: 2160-9020