Atomic Resolution Microscopy of Intermetallic Clathrates

Ramlau, Reiner; Grin, Juri; Sawada, Hidetaka

Atomic Resolution Microscopy of Intermetallic Clathrates

Ramlau, R., Grin, J., & Sawada, H. (2016). Atomic Resolution Microscopy of Intermetallic Clathrates. JEOL News, Electron Optics Instrumentation, 51(1), 2-6.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002C-3C0E-5 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-F813-2

資料種別: 学術論文

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Ramlau, Reiner¹, 著者
Grin, Juri², 著者
Sawada, Hidetaka³, 著者

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1Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863405
2Juri Grin, Chemical Metal Science, Max Planck Institute for Chemical Physics of Solids, Max Planck Society, ou_1863413
3External Organizations, ou_persistent22

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言語: eng - English

日付: オンライン出版: 2016-07-01出版: 2016-07-01

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出版物名: JEOL News, Electron Optics Instrumentation

種別: 学術雑誌

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出版社, 出版地: Tokyo : JEOL Ltd.

ページ: - 巻号: 51 (1) 通巻号: - 開始・終了ページ: 2 - 6 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0385-4426
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/958480262807

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