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  Precise determination of tilt angles by X-ray diffraction and reflection with arachidic acid monolayers

Tippmann-Krayer, P., & Möhwald, H. (1991). Precise determination of tilt angles by X-ray diffraction and reflection with arachidic acid monolayers. Langmuir, 7(10), 2303-2306. doi:10.1021/la00058a054.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-4590-A 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-4591-8
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Tippmann-Krayer, P., 著者
Möhwald, Helmuth1, 著者           
所属:
1External Organizations, ou_persistent22              

内容説明

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資料詳細

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言語:
 日付: 1991
 出版の状態: 出版
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: ISI: A1991GL79400054
DOI: 10.1021/la00058a054
 学位: -

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訴訟

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出版物 1

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出版物名: Langmuir
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Columbus, OH : American Chemical Society
ページ: - 巻号: 7 (10) 通巻号: - 開始・終了ページ: 2303 - 2306 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0743-7463