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  Robust Two-Dimensional Electronic Properties in Three-Dimensional Microstructures of Rotationally Stacked Turbostratic Graphene

Richter, N., Hernandez, Y. R., Schweitzer, S., Kim, J. S., Patra, A. K., Englert, J., et al. (2017). Robust Two-Dimensional Electronic Properties in Three-Dimensional Microstructures of Rotationally Stacked Turbostratic Graphene. Physical Review Applied, 7(2): 024022. doi:10.1103/PhysRevApplied.7.024022.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-0ABC-2 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-0ABD-F
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Richter, N., Autor
Hernandez, Yenny R.1, Autor           
Schweitzer, S., Autor
Kim, J. S., Autor
Patra, A. K., Autor
Englert, J., Autor
Lieberwirth, Ingo2, Autor           
Liscio, A., Autor
Palermo, V., Autor
Feng, Xinliang3, Autor           
Hirsch, A., Autor
Müllen, K.1, Autor           
Kläui, M., Autor
Affiliations:
1Dept. Müllen: Synthetic Chemistry, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800289              
2Dept. Landfester: Physical Chemistry of Polymers, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800288              
3Tech Univ Dresden, D-01069 Dresden, Germany, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1103/PhysRevApplied.7.024022
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Physical Review Applied
  Kurztitel : Phys. Rev. Appl.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: College Park, Md. [u.a.] : American Physical Society
Seiten: - Band / Heft: 7 (2) Artikelnummer: 024022 Start- / Endseite: - Identifikator: ISSN: 2331-7019
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/2331-7019