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  KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples: application to in situ mechanically loaded nanowires

Leclere, C., Cornelius, T., Ren, Z., Robach, O., Micha, J.-S., Davydok, A., et al. (2016). KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples: application to in situ mechanically loaded nanowires. Journal of Synchrotron Radiation, 23, 1395-1400. doi:10.1107/S1600577516013849.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Leclere, C.1, Autor
Cornelius, T.W.1, Autor
Ren, Z.1, Autor
Robach, O.2, Autor
Micha, J.-S.2, Autor
Davydok, A.1, Autor
Ulrich, O.2, Autor
Richter, Gunther3, Autor           
Thomas, O.1, Autor
Affiliations:
1Aix Marseille Universite, CNRS, Universite de Toulon, IM2NP UMR 7334, 13397 Marseille, France, ou_persistent22              
2CRG-IF BM32 Beamline at the European Synchrotron, CS40220, 38043 Grenoble Cedex 9, France,, ou_persistent22              
3Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              

Inhalt

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Schlagwörter: ZWE Dünnschichtlabor
 Zusammenfassung: -

Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2016-11
 Publikationsstatus: Online veröffentlicht
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1107/S1600577516013849
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Journal of Synchrotron Radiation
  Kurztitel : J. Synchrotron Radiat.
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Copenhagen, Denmark : Published for the International Union of Crystallography by Munksgaard
Seiten: - Band / Heft: 23 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 1395 - 1400 Identifikator: ISSN: 0909-0495
ISSN: 1600-5775
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925562624