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  KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples: application to in situ mechanically loaded nanowires

Leclere, C., Cornelius, T., Ren, Z., Robach, O., Micha, J.-S., Davydok, A., Ulrich, O., Richter, G., & Thomas, O. (2016). KB scanning of X-ray beam for Laue microdiffraction on accelero-phobic samples: application to in situ mechanically loaded nanowires. Journal of Synchrotron Radiation, 23, 1395-1400. doi:10.1107/S1600577516013849.

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基本情報

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-297C-9 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-297D-7
資料種別: 学術論文

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作成者

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 作成者:
Leclere, C.1, 著者
Cornelius, T.W.1, 著者
Ren, Z.1, 著者
Robach, O.2, 著者
Micha, J.-S.2, 著者
Davydok, A.1, 著者
Ulrich, O.2, 著者
Richter, Gunther3, 著者           
Thomas, O.1, 著者
所属:
1Aix Marseille Universite, CNRS, Universite de Toulon, IM2NP UMR 7334, 13397 Marseille, France, ou_persistent22              
2CRG-IF BM32 Beamline at the European Synchrotron, CS40220, 38043 Grenoble Cedex 9, France,, ou_persistent22              
3Central Scientific Facility Thin Film Laboratory, Max Planck Institute for Intelligent Systems, Max Planck Society, ou_1497640              

内容説明

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キーワード: ZWE Dünnschichtlabor
 要旨: -

資料詳細

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言語: eng - English
 日付: 2016-11
 出版の状態: オンラインで出版済み
 ページ: -
 出版情報: -
 目次: -
 査読: -
 識別子（DOI, ISBNなど）: DOI: 10.1107/S1600577516013849
 学位: -

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訴訟

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Project information

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出版物 1

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出版物名: Journal of Synchrotron Radiation
  省略形 : J. Synchrotron Radiat.
種別: 学術雑誌
 著者・編者:
所属:
出版社, 出版地: Copenhagen, Denmark : Published for the International Union of Crystallography by Munksgaard
ページ: - 巻号: 23 通巻号: - 開始・終了ページ: 1395 - 1400 識別子（ISBN, ISSN, DOIなど）: ISSN: 0909-0495
ISSN: 1600-5775
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925562624