The Effect of High Energy Ion Beam Analysis on D Trapping in W

Finlay, T. J.; Davis, J. W.; Schwarz-Selinger, T.; Haasz, A. A.

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The Effect of High Energy Ion Beam Analysis on D Trapping in W

Finlay, T. J., Davis, J. W., Schwarz-Selinger, T., & Haasz, A. A. (2017). The Effect of High Energy Ion Beam Analysis on D Trapping in W. Poster presented at 16th International Conference on Plasma-Facing Materials and Components for Fusion Applications (PFMC-16), Neuss.

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アイテムのパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-7E7A-6 版のパーマリンク: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-7E7B-4

資料種別: ポスター

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Finlay, T. J.¹, 著者
Davis, J. W.¹, 著者
Schwarz-Selinger, T.², 著者
Haasz, A. A.¹, 著者

所属:
1External Organizations, ou_persistent22
2Plasma Edge and Wall (E2M), Max Planck Institute for Plasma Physics, Max Planck Society, ou_1856327

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言語: eng - English

日付: 作成: 2017

出版の状態: 不明

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