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  Evaluation of the spectroscopic ellipsometry and dielectric properties of Cr2O3 nanoparticles doped PVDF thin films for future application of organic ferroelectric junctions

Al-Hazmi, F. S., de Leeuw, D. M., Al-Ghamdi, A. A., & Shokr, F. S. (2017). Evaluation of the spectroscopic ellipsometry and dielectric properties of Cr2O3 nanoparticles doped PVDF thin films for future application of organic ferroelectric junctions. Optik, 138, 207-213. doi:10.1016/j.ijleo.2017.03.073.

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Basisdaten

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Datensatz-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-87BF-9 Versions-Permalink: https://hdl.handle.net/11858/00-001M-0000-002D-87C5-A
Genre: Zeitschriftenartikel

Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Al-Hazmi, F. S., Autor
de Leeuw, Dago M.1, Autor           
Al-Ghamdi, A. A., Autor
Shokr, F. S., Autor
Affiliations:
1Dept. Blom: Molecular Electronics, MPI for Polymer Research, Max Planck Society, ou_1800284              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017
 Publikationsstatus: Erschienen
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: DOI: 10.1016/j.ijleo.2017.03.073
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle 1

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Titel: Optik
Genre der Quelle: Zeitschrift
 Urheber:
Affiliations:
Ort, Verlag, Ausgabe: Stuttgart : Urban & Fischer
Seiten: - Band / Heft: 138 Artikelnummer: - Start- / Endseite: 207 - 213 Identifikator: ISSN: 0030-4026
CoNE: https://pure.mpg.de/cone/journals/resource/954925430331