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  Correlative transmission EBSD-APT analysis of grain boundaries in Cu(In,Ga)Se2 and Cu2ZnSnSe4 based thin-film solar cells

Schwarz, T., Stechmann, G., Gault, B., Cojocaru-Mirédin, O., Choi, P.-P., Redinger, A., et al. (2017). Correlative transmission EBSD-APT analysis of grain boundaries in Cu(In,Ga)Se2 and Cu2ZnSnSe4 based thin-film solar cells. Talk presented at Microscopy & Microanalysis. St. Louis, Missouri, USA. 2017-08-06 - 2017-08-10.

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Externe Referenzen

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Urheber

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 Urheber:
Schwarz, Torsten1, Autor           
Stechmann, Guillaume2, Autor           
Gault, Baptiste1, Autor           
Cojocaru-Mirédin, Oana2, 3, Autor           
Choi, Pyuck-Pa4, Autor           
Redinger, Alex5, Autor           
Siebentritt, Susanne5, Autor           
Raabe, Dierk2, Autor           
Affiliations:
1Atom Probe Tomography, Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863384              
2Microstructure Physics and Alloy Design, Max-Planck-Institut für Eisenforschung GmbH, Max Planck Society, ou_1863381              
3RWTH Aachen, I. Physikalisches Institut IA, Aachen, Germany, ou_persistent22              
4Department of Materials Science and Engineering, Korea Advanced Institute of Science and Technology, Daejeon 34141, Korea, ou_persistent22              
5University of Luxembourg, Laboratory for Photovoltaics, 41, rue du Brill, L-4422, Belvaux, Luxembourg, ou_persistent22              

Inhalt

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Details

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Sprache(n): eng - English
 Datum: 2017-08
 Publikationsstatus: Keine Angabe
 Seiten: -
 Ort, Verlag, Ausgabe: -
 Inhaltsverzeichnis: -
 Art der Begutachtung: -
 Identifikatoren: -
 Art des Abschluß: -

Veranstaltung

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Titel: Microscopy & Microanalysis
Veranstaltungsort: St. Louis, Missouri, USA
Start-/Enddatum: 2017-08-06 - 2017-08-10

Entscheidung

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Projektinformation

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Quelle

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